NIR-jahuanalüsaator
SpectraStar XT-F
Kiire ja kasutusvalmis lahendus nisu, jahu ning jahvatuse kõrvalsaaduste kvaliteedinäitajate määramiseks. Mõeldud veskitele, pagaritööstustele ja teraviljalaboritele, kus otsused tuleb teha analüüsi ootamata.
01 · Selge eesmärk
NIR-analüsaator jahu ja jahvatusprotsessi kontrolliks
SpectraStar XT-F mõõdab proovi lähiinfrapunaspektrit ning kasutab valitud kalibratsiooni, et arvutada vajalikud kvaliteedinäitajad. Ühe mõõtmisega saab hinnata tavapäraseid näitajaid, nagu niiskus, valk ja tuhk, ning sobivate kalibratsioonidega ka veeimavust, reoloogilisi näitajaid, kiudaineid, suhkruid, rasvhappeid või tärklist.
Analüüs ei asenda kalibratsioonide loomisel ja kontrollimisel referentsmeetodeid, kuid muudab igapäevase rutiinkontrolli oluliselt kiiremaks.
02 · Kliendid ja kasutuskohad
Kellele SpectraStar XT-F sobib?
Veskile
Saabuva nisu kvaliteedi kontrolliks, niisutusprotsessi jälgimiseks, jahvatusvoogude hindamiseks ja valmisjahu spetsifikatsiooni kinnitamiseks.
Pagaritööstusele
Jahu ja teiste koostisosade kvalifitseerimiseks ning küpsetustulemusi mõjutavate omaduste järjepidevaks jälgimiseks.
Teraviljalaborile
Suure proovimahtu korral kiireks ja operaatorist vähem sõltuvaks rutiinanalüüsiks.
Tooraine vastuvõttu
Partiide kiireks võrdlemiseks ja otsustamiseks enne materjali suunamist tootmisse või ladustamisse.
03 · Igapäevane töö
Kuidas analüüs toimub?
- 1
Täitke sobiv proovianum
Kasutage proovi liigile mõeldud anumat ja ühtlast proovivõtumeetodit.
- 2
Valige UScan tarkvaras toode
Õige kalibratsioon seob spektri konkreetsete kvaliteedinäitajatega.
- 3
Käivitage mõõtmine
Analüüs kestab 10–60 sekundit.
- 4
Vaadake ja talletage tulemus
Tulemusi saab hallata, võrrelda ja kasutada aruandluses.
04 · Praktiline väärtus
Mida klient seadme kasutamisest saab?
Tulemus saadakse minutite asemel sekunditega, et kõrvalekaldele saaks reageerida tootmise ajal.
Üks mõõtmine annab valitud kalibratsiooni piires mitu koostise ja kvaliteedi näitajat.
Puuteekraan, selge töövoog ja operaatorist sõltumatum mõõtmine toetavad korduvat igapäevatööd.
UScan tarkvara aitab hoida tulemusi, ajalugu ja aruandlust ühes süsteemis.
05 · Tehnilised andmed
SpectraStar XT-F põhiandmed
- Lainepikkuste vahemik
- 1400–2600 nm
- Mõõterežiim
- Peegeldus
- Analüüsiaeg
- 10–60 sekundit
- Detektor
- Jahutatud laiendatud vahemikuga InGaAs-detektor
- Mõõtmed
- 39 × 53 × 64 cm
- Kaal
- 22 kg
- Töötemperatuur
- 0–40 °C
- Ühendused
- LIMS, HDMI ja 4 USB-porti
- Standard
- Vastab standardile ISO 12099
Määratavad näitajad sõltuvad valitud kalibratsioonidest ja prooviliigist. Enne lahenduse valikut tuleb kokku leppida analüüsitavad tooted, vajalikud näitajad ning referentsmeetodid.
SpectraStar XT-F Eestis
Kas XT-F sobib teie jahule või nisule?
Saatke meile toodete nimekiri, vajalikud näitajad ja eeldatav proovide arv. Aitame hinnata seadme ning kalibratsioonide sobivust.